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TESCAN技術交流會在地化所召開
發布時間:2019-06-04

5月30日,由中國科學院地球化學研究所公共技術服務中心與TESCAN(泰思肯)公司聯合舉辦的技術交流會在A2棟學術報告廳舉行,來自地化所和外單位學者共計約50人參加會議。

近幾十年來,隨著科學發展和學科的交叉融合,科學研究工作對分析技術不斷提出了新的需求。為了讓全所從事科研技術工作的老師和同學了解儀器設備的最新技術和發展情況,中科院地化所公共技術服務中心與國內外大型儀器公司合作,不定期聯合舉辦相關技術交流會,為大家提供開放的學習交流平臺。

會上,地化所公共技術服務中心副主任凌宏文致歡迎辭。TESCAN公司重點介紹了All In One理念,即在常規的SEM-FIB+EDS+EBSD系統基礎上,再增加Raman Spectrum Image以及TOF-SIMS、 AFM等多種表征系統,可以極大地提升掃描電鏡系統的原位綜合分析能力,利用掃描電鏡可以進行TOF-SIMS質譜分析和Raman Spectrum Image拉曼分析。該項技術可以對樣品進行常規的微區形貌、結構和成分分析,還可以原位對樣品的分子結構、微量摻雜、分子取向、結晶度等微觀性質全方位表征。

 

地化所公共技術服務中心副主任凌宏文致歡迎辭

TESCAN公司做介紹

 

本次交流會有幸邀請到澳大利亞國立大學的Terrance Mernagh博士為大家完成了題為“Raman Spectroscopic Studies of Minerals and Surfaces”的精彩報告。此外,所公共技術服務中心技術人員陳佑緯、李瑞老師分別詳細介紹了大型精密儀器Nano-SIMS、FIB-SEM在地球科學中的應用。會議交流和討論熱烈,取得了預期效果。

 

交流會現場

FIB加工過程簡介視頻:

[video:FIB加工視頻簡介]

(SEM-FIB雙束掃描電鏡實驗室 李瑞/供稿)

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